SBC2000S基础型光谱仪
SBC2000S光谱仪采用深度优化的交叉非对称C-T光路结构，分辨率高，内镀特殊光学消光涂层，拥有极低的杂散光水平0.1%。外观紧凑小巧，即插即用，操作方便。检测器采用滨松COMS探测器，16bits-A/D采样，光谱仪在200-1100nm 全波段中均有良好的响应性能。系列光谱仪可通过自由空间光和光纤的方式与光源、采样附件连接。您可以配置不同的狭缝，光栅等元器件，定制不同波长范围和光学分辨率。
· 产品特点
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高分辨率≤0.3nm、300-1100nm专业用于透/反射、吸光度、光谱采集。
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狭缝可更换，可选择的波长范围和分辨率
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主流的USB2.0和20Pin UART通讯接口
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特殊光学消光涂层，极低的杂散光水平0.1%
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模块化设计，方便与其采样附件相连接和OEM使用，直接搭建透过率、吸光度、反射率测量平台
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支持二次开发和系统集成，提供SDK文档和demo文件。
· 汞氩灯测试效果图
- 测试条件： 抗紫外光纤200㎛；狭缝50㎛；
- 测试结果： 分辨率FWHM 1.8nm@546.0nm
· 技术参数
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SBC2000S技术规格参数 |
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光谱性能 |
波长范围 |
180-1100nm 可选（取决于光栅） 180-420nm G1800Lines; 180-520nm G1200Lines ; 300-1000nm G600Lines; 300-1100nm G500Lines; |
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光学系统 |
深度优化的交叉非对称C-T光路结构 |
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光纤接口 |
SMA905 |
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狭缝 |
5、10、25、50、100μm可选（默认50μm） |
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光谱分辨率 |
0.25nm-2nm，FWHM 依配置而定 |
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消高级衍射 |
消高级衍射滤光片（按需选择），用以消除光谱中的鬼线 |
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杂散光 |
＜0.1%@600nm（采用特殊光学消光涂层和光陷阱设计） |
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信噪比 |
300:1 |
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暗噪声 |
7(RMS) |
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暗背景 |
≤1500 |
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光栅 |
高衍射效率、低杂散光 |
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探测器 |
探测器型号 |
滨松S11639 2048线阵 CMOS |
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像素 |
2048 x 1 |
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像素尺寸 |
14μm x 200μm |
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动态范围 |
10000 ：1 |
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探测灵敏度 |
1300 V / (lx.s) |
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电子平台 |
A/D转换分辨率 |
16 bits |
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电源 |
5V DC |
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通讯接口 |
USB2.0（高速）、20Pin扩展功能口、支持RS232 |
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光源频闪功能 |
支持脉冲氙灯同步触发采集光谱 |
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积分时间 |
1ms - 65s |
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其他 |
尺寸 |
102mm x 77mm x 35mm |
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壳体固定孔 |
底部4个M3螺纹孔 |
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类别 |
型号 |
光栅 |
光谱范围* |
光谱带宽 |
狭缝 |
光谱分辨率 |
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紫外 |
SBC2000S-UV |
1800g/mm |
180-420nm |
240nm |
25μm |
0.43nm |
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1800g/mm |
180-420nm |
240nm |
50μm |
0.55nm |
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紫外可见近红外 |
SBC2000S-UV-VIS |
600g/mm |
300-1000nm |
700nm |
25um |
1.3nm |
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SBC2000S-UV-VIS |
600g/mm |
300-1000nm |
700nm |
50um |
1.7nm |
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SBC2000S-VIS-NIR |
500g/mm |
300-1100nm |
800nm |
50um |
1.8nm |
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*典型值，可能存在小的偏差。采用深度优化的交叉非对称C-T光路，分辨率领先于市场上绝大部分产品的。 |
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*光谱范围，其他光谱范围可沟通获取。 |
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· 机构图
光学腔体进行特殊的消杂光涂层处理：采用真黑色喷涂，全半球反射率低于1%
· 同级低噪声
- 采用进口线阵CMOS，在短积分时间下，拥有强大的灵敏度和噪声平衡能力。
- 1ms原始暗背景信号，暗背景基线＜1500 counts：
- 噪声波动情况：1ms原始信号，不做平均和平滑处理
